Zhejiang University udvikler RFID ny nanosfære sonde teknologi, der kan bruges i biomaterialer og andre discipliner

Rapporten lærte fra Zhejiang University for et par dage siden, at teamet af forsker Hu Huan i skolen, i samarbejde med IBM Watson Research Center og professor Peng Yitian of Donghua University, har opfundet en ny type nanosfære sonde teknologi, der kan måle interfacet mellem nanometer og mikrometer. , Fylder vacancy i denne skala og løser den vigtige tekniske flaskehals inden for nanotribology.

Atomkraft mikroskop bruges til at studere "force" når objekter er i kontakt. Dens kernekomponent sonde er som "tentacles" af insekter, som kan konvertere kraften på prøveoverfladen i bøjning af mikrokloden, som derefter opdages af laserstrålen. Blandt dem, den sfæriske atomkraft sonde har flere fordele i deformation, hårdhed og mekaniske egenskaber. Men størrelsen på den traditionelle sfæriske atomkraft sonde er 1-10 mikroner, og der er et blindt sted i målingen af nanometer skala. Samtidig er sfærisk sonde forbi limet, og den tidligere position er svært at kontrollere, hvilket vil påvirke nøjagtigheden, og vil nemt falde af, når man støder på høj temperatur eller væske.

"Den højenergi helium ion bjælker kan fokuseres på en stråle plet med en diameter på omkring 0,5 nanometer. Som en ultra-små kniv, kan det skære materialer på nanometer skalaen på vilje, men implantating af højenergi helium ion stråle i et silicium substrat vil danne en mave. "Hu Huan sagde, at forskningsteamet gennemførte det første eksperiment ved hjælp af helium ion uplift-effekten for at gøre nanosfære sonder. En platform er indgraveret på sonden af et almindeligt atomkraft mikroskop ved at fokusere ion ching, og en højenergi helium ionstråle injiceres efter præcis positionering på platformen, hvilket gør monocrystalline silicium bue og realiserer en stabil og pålidelig nanosfære sonde teknologi fremstilling proces. En sfærisk sonde med høj opløsning, høj nøjagtighed og høj temperatur modstand er lavet, og diameteren af nålespidsen kan justeres præcist mellem 100 nanometer og 1 mikron.