저장성대학은생물물질및다른분야에서사용될수있는RFID새로운nanosphere조사기술을개발합니다

저장성대학에서배운기자는며칠전에학교의연구胡洹자의팀,IBM华生研究中心의팀과협력및동화대학의彭艺교수는나노미터와마이크로미터사이의인터페이스를정확하게측정할수있는나노구체조사기술의새로운유형을발명했다。·이가늠자의공평을채우고nanotribology의분야에있는중요한기술적인瓶颈을해결합니다。

원자힘현미경은물체가접촉에있을때“힘”을공부하기위하여이용됩니다。그것의핵심성분조사는微悬臂의구부리기로견본표면에힘을개조할수있는곤충의“触角”같이,그후에레이저광선에의해검출되는。그사이에,둥근원자힘조사에는개악,경도및기계적성질에있는이점이더있습니다。그러나,전통적인둥근원자힘조사의크기는1 - 10미크론이고,纳米가늠자의측정에있는장님반점이있습니다。동시에,둥근조사는접착제에의해풀리고,과거위치는정확도에영향을미칠것이어렵고,쉽게고열또는액체를만날때떨어지게될것입니다。

고에너지헬륨이온빔은약0.5나노미터의직경과빔스폿에집중할수있습니다。초소형칼처럼나노미터규모의소재를절단할수있지만,고에너지헬륨이온빔을실리콘기판에주입하면범프를형성할수있습니다。“胡洹은연구팀이nanosphere探针를만들기위해헬륨이온상승효과를사용하여첫번째실험을수행했다고말했다。플랫폼은집중된이온蚀刻에의해정규적인원자힘현미경의조사에새겨지고,높에너지헬륨이온광속은단결정실리콘隆起를만들고안정되어있는믿을수있는nanosphere조사기술제조과정을깨닫는플랫폼에정확한포지셔닝후에주사됩니다。높은해결책,고정확도및고열저항을가진둥근조사는만들고,바늘끝의직경은100纳米와1개미크론사이에서정확하게조정될수있습니다。