便携式测试仪，方便检测谐振频率，Q值，带宽等。
准确测量各种尺寸的中短波器件的各种尺寸参数，包括:谐振频率，衰减，Q值，支持读取UID码，识别部分芯片。
能够测试传输或反射特性(包括定向耦合)，可调射频输入功率，模拟读卡器。
测试结果和波形可以自动写入日志文件。
预设测试范围，以确定样品是否合格。
T8200PRO-G便携式RFID性能测试仪
测试原理:磁耦合非接触谐振频率
测量方式:传输/反射特性
检测项目:谐振频率、衰减、Q值、UID、芯片类型(部分)
协议:ISO14443A、ISO14443B ISO15693
数据点:100~2048点
测试时间:无ID读数:0.5秒(典型)，有ID读数:1秒(典型)
日志文件:UID, PASS/FAIL，共振频率，衰减，Q值
波形格式:csv、jpg
频率范围:10KHz~100MHz
应用功率:-30~15dBm
DIO接口(可选):隔离输入/输出
系统要求:PC(OS) Windows7、Windows8.1、Windows10、USB2.0
电源:USB总线电源(电流消耗500ma)
包装清单:主机、USB线、同轴电缆(500m x2)、高频标准卡尺寸测试夹具、天线板测试可选不同尺寸规格、安装光盘
尺寸重量:125(W)x165(D)x40(H)mm，不包括突出物，0.8kg
T8200PRO-G便携式RFID性能测试仪操作简单、易学、携带方便
显示方便，频谱、Q值、衰减db值直接屏幕显示
自动判断测量结果是否通过，并自动生成检测日志文件。
智能卡、RFID标签共振频率检测:告知测量结果是否正确;自动生成检查日志文件;可调射频功率-30dBm~15dBm。可以在芯片绑定前检测射频天线，如双接口卡线圈镶嵌。
RFID读写天线谐振频率检测。
无线电源线圈和功率电感的自共振频率检测
约翰。李
13606915775